電化學顯微鏡為表面科學測量提供了一種新的方法

　　電化學顯微鏡的掃描振動參比電極系統采用振動電極和鎖定放大器，消除了微區掃描中的噪聲干擾，提高了測量精度。該系統具有靈敏度高，無損的特點，可用于電化學活性的測量。它可以用于線性或表面掃描，局部腐蝕研究，表面涂層和腐蝕抑制劑評估等。振動探頭是在液體腐蝕環境中進行腐蝕研究的強大工具。它可以檢測不到5ua/cm2的原位腐蝕。
 

　　電化學顯微鏡為表面科學測量提供了一種新方法，可用于測量導電，半導電或涂層材料與樣品探針之間的功函數差。此技術適用于振動電容探頭。通過調節施加的電壓，可以測量樣品表面和掃描探針的參考之間的功函數差。功函數與表面狀況直接相關的理論的改進使SKP成為一種有價值的工具。它在潮濕甚至氣體環境中的測量能力使以前不可能進行的現實研究成為可能。

　　1.不銹鋼和鋁的點蝕檢測，生長過程的在線監測等；

　　2.研究有機和金屬涂層的缺陷和完整性；

　　3.金屬/有機涂層界面的腐蝕機理及檢測；

　　4.有機涂層的剝離和剝落機理；

　　5.鈍化處理后不銹鋼熱影響區（HAZ）的電位分布；

　　6.研究了碳鋼和不銹鋼在干濕循環中陰極和陽極區域的分布行為；

　　7.薄液層下的氧還原反應和金屬腐蝕過程的特點；

　　8.電化學顯微鏡模擬在線監測不同大氣環境中的腐蝕電位；

　　9.研究了鋁合金及其他材料在大氣環境中的腐蝕敏感性；

　　10.檢測金屬和半導體材料小區域的表面清潔度，缺陷，損壞和均勻性。